Forschungsgruppe Sicherheitstechnik auf der europäischen Konferenz für Sicherheit und Zuverlässigkeit

Die drei Professoren Clemens Dietl, David Schepers und Uwe Kay Rakowsky besuchten zusammen mit der wissenschaftlichen Mitarbeiterin Sarah Napp, dem wissenschaftlichen Mitarbeiter Simon Sehic und der Master-Absolventin Elena Bylski (siehe Bild, von links nach rechts) die europäische Konferenz für Sicherheit und Zuverlässigkeit in Stavanger an Norwegens Westküste. Mit über 800 Beiträgen gehört sie seit über 35 Jahren zu den etablierten Konferenzen auf diesem Gebiet weltweit. Obwohl es eine europäische Konferenz ist, kommt ein sehr großer Anteil der Teilnehmenden aus Asien und Südamerika.

^{Foto: © Unbekannt}

Elena Bylski präsentierte einen Extrakt Ihrer Masterarbeit zur Modellierung der Ausfallrate eines Halbleiters im Kontext der Quanten-Physik. Im Anschluss erhielt sie eine Einladung zu einem weiterführenden Vortrag auf der Schwester-Konferenz ESReDA im Herbst in Høvik bei Oslo.

^{Foto: © Uwe Kay Rakowsky}

Simon Sehic stellte ein Experiment zur beschleunigten Lebensdauer-Prüfung vor, wie es im Bachelor-Studiengang Sicherheitstechnik in einem Praktikum durchgeführt wird. Sowohl die Hard- und Software als auch der didaktische Ansatz wurden im Lauf der Jahre immer weiterentwickelt und verfeinert.

^{Foto: © Uwe Kay Rakowsky}

David Schepers enthüllte dem Publikum einige versteckte Juwelen in redundanten Strukturen von eingebetteten Systemen.

   ^{Foto: © Ingrid Martinussen}

_____________________________________________________________________________________________

Referenzen 

• Bylski, E.; Rakowsky, U. K., Dietl; C.: A quantum-physical approach to modelling the failure rate of a two-state component.
• Sehic, S.; Vališ, D.; Rakowsky, U. K., Mammitzsch; S.: Reliability in education – a hands-on university experimental course on accelerated life testing.
• Schepers, D.; Schwarzer, S.; Hernández Cosío, J.; Flores López, M. Z.: The hidden gem of IEC 61508: Unveiling the advantages of the 1oo2D structure in embedded system.

Alle drei in: Aven, T. et al. (edts.) Proceedings of the 35th European Safety and Reliability Conference – ESREL 2025, Stavanger, Norway. ISBN 978-981-94-3281-3.